Nanopartikel digunakan secara meluas dalam pelbagai bidang seperti penghantaran ubat, pengimejan, dan sains bahan. Salutan pada permukaan nanopartikel boleh menjejaskan sifat dan prestasinya. Oleh itu, adalah penting untuk mengukur ketebalan salutan untuk memahami kesannya pada nanozarah. Dalam catatan blog ini, kami akan memperkenalkan beberapa kaedah untuk mengukur ketebalan salutan pada zarah nano.
1. Mikroskopi Elektron Penghantaran (TEM)
TEM ialah teknik pengimejan berkuasa yang boleh memberikan imej nanozarah resolusi tinggi. Ia juga boleh digunakan untuk mengukur ketebalan salutan pada zarah nano. TEM berfungsi dengan menghantar pancaran elektron melalui sampel, dan interaksi antara elektron dan sampel boleh digunakan untuk mencipta imej. Dengan menggunakan TEM, kontras antara salutan dan nanozarah boleh digunakan untuk mengukur ketebalan salutan.
2. Mikroskopi Daya Atom (AFM)
AFM ialah satu lagi teknik pengimejan yang boleh digunakan untuk mengukur ketebalan salutan pada zarah nano. Ia berfungsi dengan mengimbas permukaan sampel dengan probe kecil. Probe boleh mengukur ketinggian sampel dengan ketepatan tinggi, yang boleh digunakan untuk mengira ketebalan salutan pada nanozarah. AFM boleh memberikan imej resolusi tinggi dan sesuai untuk mengukur ketebalan salutan pada satu zarah nano.
3. Spektroskopi Ultraviolet-Visible (UV-Vis).
Spektroskopi UV-Vis ialah teknik yang boleh digunakan untuk mengukur ketebalan salutan pada sejumlah besar nanopartikel secara serentak. Ia berfungsi dengan mengukur spektrum penyerapan zarah nano dalam larutan. Salutan pada zarah nano boleh menjejaskan spektrum penyerapan, dan ketebalan salutan boleh dikira berdasarkan tahap peralihan spektrum. Spektroskopi UV-Vis ialah kaedah yang pantas dan mudah untuk mengukur ketebalan salutan pada zarah nano.
4. Imbangan Mikro Kristal Kuarza (QCM)
QCM ialah teknik yang sangat sensitif yang boleh digunakan untuk mengukur jisim zarah nano. Dengan mengukur perubahan jisim nanozarah dengan dan tanpa salutan, ketebalan salutan boleh dikira. QCM boleh menyediakan pemantauan masa nyata bagi ketebalan salutan dan sesuai untuk mengkaji kestabilan dan kinetik salutan pada nanozarah.
Kesimpulannya, terdapat beberapa kaedah untuk mengukur ketebalan salutan pada nanozarah, masing-masing dengan kelebihan dan batasannya. Pilihan kaedah bergantung pada keperluan khusus aplikasi. Dengan memahami ketebalan salutan pada zarah nano, kami boleh mereka bentuk dan mengoptimumkan sifat dan fungsinya untuk pelbagai aplikasi.
