Instrumen pengesanan yang biasa digunakan untuk menganalisis komposisibahan nanotermasuk:
1. ICP (Plasma Berganding Secara Induktif): ICP ialah teknologi yang digunakan secara meluas dalam bidang kimia analisis dan sains bahan. Ia boleh digunakan untuk menentukan kandungan dan komposisi unsur dalam bahan nano. Dengan menukar sampel kepada ion gas dan menggunakan spektrum plasma yang dihasilkan untuk menentukan kepekatan unsur. ICP-MS (Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer) menggabungkan teknik ICP dan spektrometri jisim untuk menganalisis kepekatan unsur yang sangat rendah dalam bahan nano.
2. XRF (Fluoroskopi X-ray): XRF ialah teknologi yang digunakan secara meluas untuk analisis bahan dan ujian tidak merosakkan. Ia menentukan komposisi unsur dengan menyinari permukaan atau bahagian dalam sampel dengan sinar-X dan mengukur sinaran pendarfluor ciri unsur dalam sampel. XRF sesuai untuk pelbagai bahan nano, termasuk sampel pepejal, cecair dan serbuk.
3. EDS (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy): EDS ialah teknik mikroskop elektron yang menentukan komposisi unsur dalam sampel dengan mengukur sinar-X yang dihasilkan oleh interaksi antara pancaran elektron dan sampel dalam bahan. EDS sering digunakan bersama-sama dengan mikroskop elektron pengimbasan (SEM) untuk menyediakan analisis komposisi permukaan bahan nano.
