Mikroskopi elektron penghantaran zarah nano (TEM) ialah teknik mikroskopi penting yang digunakan secara meluas untuk memerhati dan mencirikan struktur dan morfologi zarah dan bahan berskala nano.
TEM menggunakan rasuk elektron bertenaga tinggi untuk memerhati butiran mikroskopik sampel melalui kepingan nipis. Dalam TEM, pancaran elektron difokuskan melalui sistem kanta dan kemudian melalui sampel, berinteraksi dengan atom atau molekul dalam sampel. Dengan mengumpul maklumat mengenai pancaran elektron yang dihantar, imej resolusi tinggi dan corak pembelauan sampel boleh diperoleh, dengan itu mendedahkan struktur dan komposisi dalamannya.
Berikut ialah langkah umum untuk menggunakan TEM untuk menguji sampel:
1. Penyediaan sampel: Pertama, adalah perlu untuk menyediakan sampel untuk diuji menjadi kepingan sampel yang cukup nipis. Kaedah penyediaan biasa termasuk penghirisan mekanikal, pengisaran ion, pemendapan emparan, dan pemotongan rasuk ion terfokus (FIB).
2. Pemuatan sampel: Letakkan kepingan sampel yang disediakan pada pembawa sampel TEM dan pastikan penetapan dan kestabilannya.
3. Tetapan instrumen: Tetapkan parameter seperti voltan pecutan, pemfokusan dan fungsi penjajaran yang diperlukan untuk TEM. Biasanya, adalah perlu untuk memilih tetapan dan mod kanta yang sesuai untuk mendapatkan maklumat imej yang diperlukan.
4. Pemerhatian dan pelarasan: Masukkan pemegang sampel ke dalam instrumen TEM dan amati sampel menggunakan kanta mata atau mikroskop. Di bawah pembesaran yang sesuai, perhatikan sama ada morfologi dan struktur sampel memenuhi keperluan, dan laraskan serta optimumkan mengikut keperluan.
5. Tangkapan imej: Pilih tetapan kanta dan masa pendedahan yang sesuai untuk menangkap imej resolusi tinggi sampel melalui sistem TEM. Imej dari kawasan dan sudut yang berbeza boleh dikumpul untuk mendapatkan maklumat yang lebih komprehensif.
6. Analisis data: Menganalisis dan mentafsir imej TEM, termasuk mengukur saiz zarah, morfologi permukaan, struktur kristal, dll. Analisis spektrum tenaga yang sepadan dan analisis corak pembelauan juga boleh dijalankan untuk mendapatkan maklumat tentang komposisi unsur dan struktur kristal.
TEM ialah teknik mikroskopi resolusi tinggi yang biasa digunakan untuk mengkaji zarah nano, bahan nano, struktur nano dan banyak lagi. Ia boleh memberikan pemerhatian dan analisis terperinci pada skala nano, memainkan peranan penting dalam memahami sifat struktur bahan, morfologi dan komposisi zarah nano, dan kajian fenomena skala nano.
