China Iridium Nanopartikel Pengilang, Pembekal, Kilang

Diagnosis dan rawatan strok iskemia akut (AIS) yang tepat memerlukan teknologi pengimejan kepekaan dan resolusi tinggi. Malangnya, teknologi sedemikian masih kurang di lapangan. Walau bagaimanapun, pada 4 Julai 2024, Small melaporkan pembangunan teknik Pengimejan Kecenderungan Dipertingkatkan Kontras (CE-SWI) yang mampu memenuhi keperluan pengimejan berketepatan tinggi. Teknik ini menggunakan nanozarah Fe3O4 yang diubah suai oleh Dextran (Fe3O4@Dextran NPs), yang membolehkan pengimejan sensitiviti dan resolusi tinggi AIS pada 9.4T.

Antibiotik merujuk kepada ubat-ubatan yang boleh menghalang pertumbuhan bakteria, merosakkan persekitaran hidup mereka, dan secara berkesan dan berterusan memberikan kesannya. Agen antibakteria dibahagikan kepada dua kategori: agen antibakteria organik dan agen antibakteria bukan organik. Antaranya, agen antibakteria organik termasuk jenis semula jadi dan sintetik, manakala agen antibakteria bukan organik terutamanya termasuk logam, ion logam dan oksida. Langkah-langkah antibakteria yang biasa dirujuk termasuk perencatan, pembunuhan, penyingkiran toksin yang dirembeskan oleh bakteria, dan pencegahan. Disebabkan oleh kestabilan haba yang kuat, kefungsian tahan lama, dan keselamatan dan kebolehpercayaan agen antibakteria bukan organik, ditambah pula dengan pembangunan teknologi ultra-halus dalam beberapa tahun kebelakangan ini, agen antibakteria bukan organik skala nano boleh dihasilkan secara besar-besaran dan diadun atau komposit menjadi gentian kimia. , memastikan perindustrian gentian kimia antibakteria.

Mikroskop Elektron Pengimbasan (SEM) ialah teknik pencirian dan analisis resolusi tinggi yang menggunakan pancaran elektron terfokus untuk mengimbas permukaan titik demi titik sampel, merangsang elektron sekunder SE, BSE elektron berselerak belakang, sinar-X ciri dan isyarat lain, dan imejnya, dengan itu mencapai struktur mikro, komposisi kimia dan struktur mikro permukaan sampel. Artikel ini secara ringkas akan memperkenalkan masalah biasa dalam proses ujian SEM, puncanya dan penyelesaian yang sepadan:

Persatuan Komunikasi dan Reka Bentuk Elektronik Berkelajuan Tinggi Shanghai (EDW Tech) menyasarkan untuk menyediakan platform antarabangsa untuk penyelidikan akademik, pembangunan teknologi, dan pertukaran inovasi industri, meneroka dan berkongsi produk dan teknologi baharu untuk komunikasi tanpa wayar 5G, Internet of Things IoT, AI buatan. kecerdasan, kenderaan bersambung pintar, rumah pintar, penjagaan kesihatan pintar, bahan elektronik, aeroangkasa, komunikasi satelit dan pasaran semikonduktor.

Sebagai salah satu parameter pencirian serbuk nano yang paling penting, saiz zarah secara langsung mempengaruhi sifat fizikal dan kimia serbuk, dan kemudian mempengaruhi prestasi produk akhir. Oleh itu, teknologi pengesanannya adalah alat penting untuk pengeluaran perindustrian dan pengurusan kualiti, dan memainkan peranan yang tidak boleh diganti dalam meningkatkan kualiti produk, mengurangkan kos pengeluaran, dan memastikan keselamatan dan keberkesanan produk. Artikel ini akan bermula dari prinsip dan membandingkan tiga kaedah biasa untuk pengesanan saiz zarah serbuk: mikroskop elektron, analisis saiz zarah laser, dan kaedah lebar garis pembelauan sinar-X, dan menganalisis kelebihan, kelemahan dan kebolehgunaan kaedah ujian saiz zarah yang berbeza. .

Perbezaan dalam daya paduan antara serbuk yang berbeza adalah disebabkan oleh jenis dan kekuatan daya antara zarah (daya van der Waals, daya kapilari, daya elektrostatik, dsb.), dan faktor pengaruh terasnya termasuk saiz zarah, kekasaran permukaan, kandungan lembapan dan sifat bahan, menghasilkan daya kohesi yang boleh menjangkau beberapa susunan magnitud 10⁻⁻⁻⁻⁻⁻⁻⁻⁻⁻⁻⁻⁻⁻⁻⁻⁻⁻⁻⁻⁻⁻⁻⁻⁻⁻⁻⁻⁻⁻⁻ ⁻¹ N). Perbezaan ini boleh digambarkan secara kuantitatif melalui indeks ciri pengagregatan, tegangan permukaan dan model pembetulan kekasaran.